X射线荧光光谱法测定氯、溴、硫
用X射线荧光光谱仪进行测量。对于氯和硫采用经验系数法校正元素间的基体效应，对于溴用铑靶康普顿散射作内标，校正元素间的基体效应。 4 试剂及材料 除非另有说明，在分析中仅使用确认为优级纯的试剂。
X射线荧光光谱法：通过照射样品，使样品发射出X射线，并根据X射线的能量来确定样品的元素种类和含量。 扫描电子显微镜（SEM）和能谱分析（EDS）：通过SEM观察样品的表面形貌，通过EDS分析样品的元素成分。
氯元素和磷元素分析方法常用的有X射线荧光光谱法（XRF）、电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）、能量色散X射线光谱法（EDS）等。
X射线荧光分析的基本介绍
1、荧光X射线是指当物质受到入射X射线的激发后，发射出的能量较低的X射线。
2、X射线荧光光谱分析仪的主要部件为：激发源、探测器、高压电源、前置放大器、主放大器、模数转换器。获得X射线荧光光谱的方法 X射线荧光光谱法，即X射线发射光谱法，是一种非破坏性的仪器分析方法。
3、透射电子：若样品很薄，部分电子穿过试样成为透射电子。因此，对于薄样，可以利用特征能量损失配合电子能量分析器进行微区成分分析。
4、“X射线荧光”，是指受X射线(“照射光”)照射激发之后发出的“次级X射线”——它与“照射光”的波长和能量都不同。
5、X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。
6、对于X射线荧光有一个通俗易懂的解释：我们知道所有的物质都是由原子构成的。
X射线荧光光谱法
1、X射线荧光光谱法，即X射线发射光谱法，是一种非破坏性的仪器分析方法。
2、用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。
3、XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。
X射线荧光光谱法的介绍
X射线荧光光谱法，即X射线发射光谱法，是一种非破坏性的仪器分析方法。
本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。
根据荧光能量的强度来判断原子的含量有多少。X射线荧光光谱仪就是利用这个原理进行对物品所含原子的测量。而现有的X射线荧光光谱仪包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDX）、波长色散型X射线荧光光谱仪（WDX）。
X射线荧光光谱法（XRF）：XRF是一种非破坏性分析方法，利用X射线激发样品中的元素，产生特征荧光，通过分析荧光来确定金属的种类和含量。
)透射电子：透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成分分析。5)特征X射线： 用特征值进行成分分析，来自样品较深的区域 6)俄歇电子：各元素的俄歇电子能量值很低；来自样品表面1—2nm范围。
